S-3400N扫描电子显微镜

发布人：系统管理员  发布时间：2012-01-18   浏览次数:812

名称/型号 S-3400N扫描电子显微镜--日本日立 仪器特点 S-3400N具有最新开发的电子光学系统，强大的自动化功能，操作更简易 技术指标 1.S-3400N具有强大的自动功能，包括自动灯丝饱和、4偏压、自动枪对中、自动束流设定、自动合轴自动聚焦和消像散、自动亮度对比度等； 2.在3kV低加速电压时保证有10nm的分辨率； 3.新型5分割高灵敏半导体式背散射探头； 4.S-3400N型具有五轴手动台，倾斜角度可达-20度~+90度，样品最高可达80mm； 5.分析样品仓可以同时安装EDX，WDX 及EBSD； 6.真空系统使用涡轮分子泵，洁净、高效。 应用方向 焊接接头金相分析； 断口分析； 冶金粉末形貌观察； 表面形貌观察。 样品要求 试样可以是块状或粉末颗粒，在真空中能保持稳定，含有水分的试样应先烘干除去水分。表面受到污染的试样，要在不破坏试样表面结构的前提下进行适当清洗，然后烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或表面的结构状态。有些试样的表面、断口需要进行适当的侵蚀，才能暴露某些结构细节，则在侵蚀后应将表面或断口清洗干净，然后烘干。试样大小要适合仪器专用样品座的尺寸，不能过大，样品座尺寸各仪器不均相同，一般小的样品座为 Φ3～5mm ，大的样品座为Φ30～50mm，样品的高度一般在5～10mm 左右。