IXRD残余应力分析仪

发布人：系统管理员  发布时间：2012-01-18   浏览次数:941

名称/型号 IXRD残余应力分析仪 仪器特点 被测材料必须是晶体结构 技术指标 精度可达：+/- 8 MPa（ASTM标准要求无应力铁粉+/- 14 MPa）； X射线穿透深度: 通常10-20 微米 (micro)； 测量不同深度残余应力时采用电解抛光； 被测点尺寸0.2 mm 到 5 mm； 测量时间: 3 到4 分钟 (22个psi斜率) 应用方向 用于经过各种工艺过程后的金属构件的残余应力分析和失效分析，监测和分析裂纹的产生和扩展，评估有限元模型； 剪切应力分析； 残余奥氏体测定； 精确测量织构和大晶粒测量的残余应力； 便携式，适合于恶劣环境、大型设备、复杂结构设备的现场测试。